能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動(dòng)膜厚儀是一款專用于檢測(cè)各種異形件,各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè) 檢測(cè)大量的小部件特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動(dòng)膜厚儀上照式光譜測(cè)厚儀是一款專用于檢測(cè)各種異形件,各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè) 檢測(cè)大量的小部件
特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
1)搭載微聚焦X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù),最小測(cè)量面積可達(dá)0.01mm2
2)手動(dòng)變焦功能,可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-70mm
3)核心EFP算法,可對(duì)多層多元素快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析,配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái),可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守,多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)
4)可同時(shí)分析23個(gè)鍍層、24種元素,測(cè)量元素范圍:氯Cl(17)- 鈾U(92),涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92),涂鍍層檢出限:0.005μm
5)人性化封閉軟件,自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
6)標(biāo)配φ0.2mm準(zhǔn)直器
7)配有微光聚集技術(shù),最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%
應(yīng)用領(lǐng)域
儀器參數(shù)
產(chǎn)品名稱 | 能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動(dòng)膜厚儀 |
型號(hào) | XD-1000 |
測(cè)量元素范圍 | Cl(17)- U(92) |
涂鍍層分析范圍 | Li(3)- U(92) |
EFP算法 | 標(biāo)配 |
分析軟件 | 同時(shí)分析23個(gè)鍍層、24種元素 |
不同層相同 元素檢測(cè)能力 | 標(biāo)配 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件,自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作 |
X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
信號(hào)及接收 | Pro-SD處理器+PC |
準(zhǔn)直器 | φ0.2mm (可選配φ0.1mm) |
微光聚焦技術(shù) | 最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10% |
測(cè)量距離 | 具有距離補(bǔ)償功能,可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品,變焦距離大于70mm |
樣品觀測(cè) | 1/2.9"彩色CCD,變焦功能 |
對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭,無(wú)感自動(dòng)對(duì)焦 |
放大倍數(shù) | 25X-150X |
儀器尺寸 | 深760mm*寬550mm*高635mm |
Z軸移動(dòng)范圍 | 145mm |
樣品臺(tái)移動(dòng)方式 | 全自動(dòng)高精密XY平臺(tái) |
可移動(dòng)范圍 | 240*210mm |
儀器重量 | 120KG |
其他附件 | 電腦一套、附件箱、十二元素片、電鍍液測(cè)量杯(選配)、標(biāo)準(zhǔn)片(選配) |
X射線標(biāo)準(zhǔn) | DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568 |