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  • XTD毛細(xì)聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀

    毛細(xì)聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀 此系列產(chǎn)品可測量金屬準(zhǔn)直無法測量的微區(qū)，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測量微電子設(shè)備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測量納米級的鍍層，毛細(xì)聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應(yīng)鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級。 可以實(shí)現(xiàn)更高的測試精度。

    更新時間：2025-07-30
    型號：XTD
    廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
    瀏覽量：2562
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