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  • XTU-BL膜厚測(cè)試儀

    超薄膜厚測(cè)試儀性能優(yōu)勢(shì)：$n下照式設(shè)計(jì)：快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足一切測(cè)試所需。$n無損變焦檢測(cè)：擁有手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm。$n微聚焦射線裝置：可測(cè)試各微小的部件，小檢測(cè)面積可達(dá)0.002mm²。$n高效率的接收器：在檢測(cè)0.01mm²以下的樣品時(shí)，幾秒鐘也可達(dá)到穩(wěn)定性。

    更新時(shí)間：2025-07-30
    型號(hào)：XTU-BL
    廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
    瀏覽量：2668
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